Article Dans Une Revue
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
Année : 2019
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https://hal.science/hal-02614080
Soumis le : mercredi 20 mai 2020-16:13:18
Dernière modification le : mardi 12 août 2025-15:21:02
Citer
Niemat Moultif, Andres Echeverri, Dominique Carisetti, O. Latry, Eric Joubert. Thermal Analysis of AlGaN/GaN High-Electron Mobility Transistors Using I–V Pulsed Characterizations and Infra Red Microscopy. IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, 2019, 19 (4), pp.704-710. ⟨10.1109/TDMR.2019.2950091⟩. ⟨hal-02614080⟩
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