On the effect of the measurement error on Shewhart t and EWMA t control charts - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue International Journal of Advanced Manufacturing Technology Année : 2020

On the effect of the measurement error on Shewhart t and EWMA t control charts

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Philippe Castagliola  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-02568969

Soumis le : dimanche 10 mai 2020-18:38:13

Dernière modification le : mardi 27 août 2024-12:51:52

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Dates et versions

hal-02568969 , version 1 (10-05-2020)

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Citer

Huu Du Nguyen, Kim Phuc Tran, Giovanni Celano, Petros Maravelakis, Philippe Castagliola. On the effect of the measurement error on Shewhart t and EWMA t control charts. International Journal of Advanced Manufacturing Technology, 2020, 107 (9-10), pp.4317-4332. ⟨10.1007/s00170-020-05222-z⟩. ⟨hal-02568969⟩

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