Article Dans Une Revue
Japanese Journal of Applied Physics
Année : 2014
andre margaillan : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02533189
Soumis le : lundi 6 avril 2020-11:49:51
Dernière modification le : jeudi 2 mai 2024-15:48:04
Citer
Takeshi Watanabe, Tomoyuki Koganezawa, Mamoru Kikuchi, Christine Videlot-Ackermann, Jörg Ackermann, et al.. Crystal structure of oligothiophene thin films characterized by two-dimensional grazing incidence X-ray diffraction. Japanese Journal of Applied Physics, 2014, 53 (1S), pp.01AD01. ⟨10.7567/JJAP.53.01AD01⟩. ⟨hal-02533189⟩
128
Consultations
0
Téléchargements