Deep Statistical Analysis of OCR Errors for Effective Post-OCR Processing - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2019

Dates et versions

hal-02519302 , version 1 (25-03-2020)

Identifiants

Citer

Thi-Tuyet-Hai Nguyen, Adam Jatowt, Mickaël Coustaty, Nhu-Van Nguyen, Antoine Doucet. Deep Statistical Analysis of OCR Errors for Effective Post-OCR Processing. 2019 ACM/IEEE Joint Conference on Digital Libraries (JCDL), Jun 2019, Champaign, France. pp.29-38, ⟨10.1109/jcdl.2019.00015⟩. ⟨hal-02519302⟩

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