Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2018
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02516781 , version 1 (24-03-2020)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02516781 , version 1

Citer

Faical Arabi, Alexandrine Gracia, Hélène Fremont, Jean-Yves Delétage. Sequential combined thermal cycling and vibration test and simulation of printed circuit board. Microelectronics Reliability, 2018. ⟨hal-02516781⟩
76 Consultations
0 Téléchargements

Partager

  • More