Breakdown Voltage, SOA and Aging of HBTs: A Physics Base approach for Compact modeling - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2019

Breakdown Voltage, SOA and Aging of HBTs: A Physics Base approach for Compact modeling

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02511653 , version 1 (18-03-2020)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02511653 , version 1

Citer

Mathieu Jaoul, Cristell Maneux, Thomas Zimmer, Didier Céli. Breakdown Voltage, SOA and Aging of HBTs: A Physics Base approach for Compact modeling. 31th Bipolar ArbeitsKreis, 2019, Crolles, France. ⟨hal-02511653⟩
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