Breakdown Voltage, SOA and Aging of HBTs: A Physics Base approach for Compact modeling - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2019

Breakdown Voltage, SOA and Aging of HBTs: A Physics Base approach for Compact modeling

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Marina DENG  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-02511653

Soumis le : mercredi 18 mars 2020-23:33:23

Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02511653 , version 1 (18-03-2020)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02511653 , version 1

Citer

Mathieu Jaoul, Cristell Maneux, Thomas Zimmer, Didier Céli. Breakdown Voltage, SOA and Aging of HBTs: A Physics Base approach for Compact modeling. 31th Bipolar ArbeitsKreis, 2019, Crolles, France. ⟨hal-02511653⟩

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