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Communication Dans Un Congrès Année : 2011

Field emission from atomically thin edges of reduced graphene oxide

K. Murakami
  • Fonction : Auteur
Goki Eda
  • Fonction : Auteur
T. Fujita
  • Fonction : Auteur
P. Guan
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W. Wang
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C. Gong
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S. Miller
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M. Acik
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K. Cho
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Y.J. Chabal
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M. Chen
F. Wakaya
  • Fonction : Auteur
M. Takai
  • Fonction : Auteur
M. Chhowalla
  • Fonction : Auteur

Résumé

The electron emission properties of thin edges of reduced graphene oxide (rGO) were investigated by field emission microscopy (FEM) and in-situ field ion microscopy (FIM). The electron emission patterns of thin rGO edge consisted of alternating bright and dark fringe bands in the FEM image. The FIM image showed the array of bright spots along the FEM patterns. These results suggested that the field emission occurs at the atomically thin edges of rGO.

Domaines

Matériaux
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02506288 , version 1 (12-03-2020)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02506288 , version 1

Citer

K. Murakami, Hisato Yamaguchi, Goki Eda, T. Fujita, P. Guan, et al.. Field emission from atomically thin edges of reduced graphene oxide. 18th International Display Workshops 2011, IDW 2011, Dec 2011, Nagoya, Japan. pp.1775-1778. ⟨hal-02506288⟩
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