La microscopie par illumination structurée (ou SIM en Anglais) est une technique d'imagerie permettant d'obtenir super-résolution et sectionnement optique en microscopie de fluorescence. L'échantillon objet est éclairé par des motifs de franges sinusoïdales avec différentes orientations et déphasages. Ceci a pour effet d'introduire par repliement de spectre des informations à hautes fréquences spatiales de l'objet à l'intérieur du support de la fonction de transfert. L'image résultante est traitée avec des logiciels de reconstruction dédiés qui permettent de récupérer des fréquences spatiales au-delà de la coupure de l'instrument et, simultanément, d'enlever la lumière provenant des tranches défocalisées si l'objet est volumique (ce qu'on appelle sectionnement optique). Malheureusement, alors que pour les échantillons statiques, les déphasages des sinusoïdes peuvent être définis par l'utilisateur, fournissant ainsi des solutions analytiques, ce n'est pas possible pour des échantillons in-vivo, en particulier pour des images rétiniennes, du fait des mouvements oculaires incontrôlés. L'objectif de cette communication est de démontrer que la SIM peut être appliquée à l'imagerie rétinienne in-vivo afin d'obtenir à la fois sec-tionnement optique et super-résolution à partir d'images grand champ corrigées par optique adaptative. Nous introduisons une nouvelle approche, dans un cadre bayésien, qui permet de manière simple d'atteindre un sectionnement optique maximal. À cette fin, une image conventionnelle est enregistrée, recalée et soustraite de chacune des observations SIM basse résolution, de sorte que les données différentielles résultantes contiennent uniquement des informations sur la tranche focalisée de l'objet. Parce que notre méthode ne modélise pas explicitement une observation 3D mais conserve la simplicité d'un modèle 2D, elle est rapide et facile à mettre en oeuvre dans la pratique. Nous montrons des résultats de simulations qui prouvent la validité de notre approche.