On-wafer radiation pattern measurements of integrated antennas on standard BiCMOS and glass processes for 40-80GHz applications
Résumé
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Ex-Bibliothèque Télécom Bretagne (devenu IMT Atlantique) : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02482981
Soumis le : mardi 18 février 2020-13:03:30
Dernière modification le : mardi 28 février 2023-15:36:22