On-wafer radiation pattern measurements of integrated antennas on standard BiCMOS and glass processes for 40-80GHz applications - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2005

On-wafer radiation pattern measurements of integrated antennas on standard BiCMOS and glass processes for 40-80GHz applications

Noël Segura
  • Fonction : Auteur
Sébastien Montusclat
  • Fonction : Auteur
Christian Person
Smaïl Tedjini
  • Fonction : Auteur
Daniel Gloria
  • Fonction : Auteur

Résumé

*

Domaines

Electronique
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02482981 , version 1 (18-02-2020)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02482981 , version 1

Citer

Noël Segura, Sébastien Montusclat, Christian Person, Smaïl Tedjini, Daniel Gloria. On-wafer radiation pattern measurements of integrated antennas on standard BiCMOS and glass processes for 40-80GHz applications. IEEE International conference on Microelectronic test structures, Apr 2005, Leuven, Belgique. ⟨hal-02482981⟩
10 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More