Optical characterization of nano-structured Cu2ZnSnS4 thin films deposited by GLAD technique - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Chinese Journal of Physics Année : 2019

Optical characterization of nano-structured Cu2ZnSnS4 thin films deposited by GLAD technique

A. Jemi
  • Fonction : Auteur
F. Chaffar Akkari
  • Fonction : Auteur
Bruno Gallas
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02466657 , version 1 (04-02-2020)

Identifiants

Citer

A. Jemi, D. Abdelkader, F. Chaffar Akkari, Bruno Gallas, M. Kanzari. Optical characterization of nano-structured Cu2ZnSnS4 thin films deposited by GLAD technique. Chinese Journal of Physics, 2019, 60, pp.193-207. ⟨10.1016/j.cjph.2019.04.019⟩. ⟨hal-02466657⟩
83 Consultations
0 Téléchargements

Altmetric

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More