Article Dans Une Revue
Semiconductor Science and Technology
Année : 2019
Bruno Gallas : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02466643
Soumis le : mardi 4 février 2020-15:33:52
Dernière modification le : mercredi 12 avril 2023-09:51:25
Citer
F Chaffar Akkari, I Trabelsi, D. Abdelkader, Bruno Gallas, M. Kanzari. Impedance spectroscopy characterization of anisotropic nano-sculptured copper oxide Cu 2 O thin films for optoelectronic applications. Semiconductor Science and Technology, 2019, 34 (7), pp.075026. ⟨10.1088/1361-6641/ab0ecf⟩. ⟨hal-02466643⟩
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