Impedance spectroscopy characterization of anisotropic nano-sculptured copper oxide Cu 2 O thin films for optoelectronic applications - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Semiconductor Science and Technology Année : 2019

Impedance spectroscopy characterization of anisotropic nano-sculptured copper oxide Cu 2 O thin films for optoelectronic applications

F Chaffar Akkari
  • Fonction : Auteur
I Trabelsi
  • Fonction : Auteur
Bruno Gallas
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Dates et versions

hal-02466643 , version 1 (04-02-2020)

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Citer

F Chaffar Akkari, I Trabelsi, D. Abdelkader, Bruno Gallas, M. Kanzari. Impedance spectroscopy characterization of anisotropic nano-sculptured copper oxide Cu 2 O thin films for optoelectronic applications. Semiconductor Science and Technology, 2019, 34 (7), pp.075026. ⟨10.1088/1361-6641/ab0ecf⟩. ⟨hal-02466643⟩
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