Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2019
Laurence BEN TITO : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02457726
Soumis le : mardi 28 janvier 2020-11:58:38
Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-21:38:22
Dates et versions
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Identifiants
- HAL Id : hal-02457726 , version 1
- DOI : 10.1016/j.microrel.2019.06.069
Citer
Philippe Galy, Louise de Conti, G. Delahaye, Lorena Anghel. Topology and design investigation on thin film silicon BIMOS device for ESD protection in FD-SOI technology. Microelectronics Reliability, 2019, ⟨10.1016/j.microrel.2019.06.069⟩. ⟨hal-02457726⟩
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