Article Dans Une Revue
Solid-State Electronics
Année : 2018
Bogdan Cretu : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02438735
Soumis le : mardi 14 janvier 2020-12:27:29
Dernière modification le : mercredi 20 mars 2024-16:20:04
Citer
B. Nafaa, B Cretu, N. Ismail, O. Touayar, R. Carin, et al.. Low-frequency noise measurements at liquid helium temperature operation in ultra-thin buried oxide transistors – Physical interpretation of transport phenomena. Solid-State Electronics, 2018, 150, pp.1-7. ⟨10.1016/j.sse.2018.08.010⟩. ⟨hal-02438735⟩
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