Article Dans Une Revue
ECS Transactions
Année : 2019
Christoforos Theodorou : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02415983
Soumis le : mardi 17 décembre 2019-14:33:18
Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-21:01:15
Citer
Carlos Diaz Llorente, Christoforos Theodorou, Jean-Pierre Colinge, Sorin Cristoloveanu, Sébastien Martinie, et al.. Charge Pumping in Ultrathin SOI Tunnel FETs: Impact of Back-Gate Voltage. ECS Transactions, 2019, 89 (3), pp.111-120. ⟨10.1149/08903.0111ecst⟩. ⟨hal-02415983⟩
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