Matched absorbing medium techniques for full-wave TLM simulations of microwave and millimeter-wave components
Technique des couches absorbantes adaptées, appliquées à l’analyse rigoureuse des composants microondes et en bande millimétrique, par la méthode TLM
Résumé
This paper investigates the absorbing layer techniques for three-dimensional transmission-line matrix (3d-tlm) simulations. Applications are the full-wave analysis of structures such as microwave and millimeter-wave circuits open to free space. Two approaches are presented, namely the matched layer (ml) and the perfectly matched layer (pml) technique which is used for general cases. For the ml technique, which is efficient for matching guides operating in a quasi-TEM condition, a comparison of the different tlm condensed node is carried out. Concerning the more general case of the pml technique, the theoretical development of a new general three-dimensional (3d) tlm condensed cell is presented. Results pertaining to the characterization of planar circuits are compared with other solutions or measurements. It is found that a proposed unified approach, which includes the tlm simulation for matched layer media, yields very good performance in terms of the absorbing boundary condition (abc).
Cet article présente des techniques des milieux absorbants pour la modelisation par la methode de la matrice des lignes de transmission tridimensionnelle (3d-tlm). Les applications sont l’analyse électromagnétique de circuits microondes et millimétriques ouverts sur l’espace libre. Les deux approches discutées utilisent les milieux adaptés (ml) et les couches parfaitement adaptées (pml), ces dernières étant utilisées pour le cas général. La technique ml, qui est efficace pour l’adaptation de guides opérant en modes quasi statiques, est étudiée dans le cas de différents types de cellules tlm condensées. Pour la simulation des milieux pml applicables aux cas plus généraux, le développement théorique d’une nouvelle cellule tlm tridimensionnelle est présenté. Dans le cadre de caractérisation de discontinuités en technologic plaquée, des résultats de simulations sont comparés avec des solutions trouvées par d’autres méthodes ou la mesure. On trouve que l’approche unifiée proposée donne de très bonnes performances en termes de conditions absorbantes aux limites (abc).
Origine : Fichiers produits par l'(les) auteur(s)