Raman diagnostics of free charge carriers in boron‐doped silicon nanowires - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Journal of Raman Spectroscopy Année : 2019

Raman diagnostics of free charge carriers in boron‐doped silicon nanowires

S.P. Rodichkina
  • Fonction : Auteur
T. Nychyporuk
A.V. Pavlikov
  • Fonction : Auteur
V.Yu. Timoshenko
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02397766 , version 1 (06-12-2019)

Identifiants

Citer

S.P. Rodichkina, T. Nychyporuk, A.V. Pavlikov, V. Lysenko, V.Yu. Timoshenko. Raman diagnostics of free charge carriers in boron‐doped silicon nanowires. Journal of Raman Spectroscopy, 2019, 50 (11), pp.1642-1648. ⟨10.1002/jrs.5702⟩. ⟨hal-02397766⟩
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