Admittivity imaging from multi-frequency micro-electrical impedance tomography - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Journal of Mathematical Analysis and Applications Année : 2017

Admittivity imaging from multi-frequency micro-electrical impedance tomography

Habib Ammari
Seminar for Applied Mathematics
Laure Giovangigli
Département de Mathématiques et Applications - ENS-PSL
CV
Loc Hoang Nguyen
  • Fonction : Auteur
University of North Carolina [Charlotte]
Jin-Keun Seo
  • Fonction : Auteur

Domaines

Mathématiques [math] Equations aux dérivées partielles [math.AP] Analyse numérique [math.NA]

Laure Giovangigli  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-02352559

Soumis le : mercredi 6 novembre 2019-21:17:06

Dernière modification le : lundi 9 décembre 2024-15:37:06

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Dates et versions

hal-02352559 , version 1 (06-11-2019)

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Citer

Habib Ammari, Laure Giovangigli, Loc Hoang Nguyen, Jin-Keun Seo. Admittivity imaging from multi-frequency micro-electrical impedance tomography. Journal of Mathematical Analysis and Applications, 2017, 449 (2), pp.1601-1618. ⟨10.1016/j.jmaa.2017.01.004⟩. ⟨hal-02352559⟩

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