Microwave Device Characterization Using a Widefield Diamond Microscope - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Physical Review Applied Année : 2018

Dates et versions

hal-02346269 , version 1 (04-11-2019)

Identifiants

Citer

Andrew Horsley, Patrick Appel, Janik Wolters, Jocelyn Achard, Alexandre Tallaire, et al.. Microwave Device Characterization Using a Widefield Diamond Microscope. Physical Review Applied, 2018, 10 (4), ⟨10.1103/PhysRevApplied.10.044039⟩. ⟨hal-02346269⟩
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