Article Dans Une Revue
Surface and Coatings Technology
Année : 2012
LUDOVIC DE POUCQUES : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02314413
Soumis le : lundi 14 octobre 2019-13:05:21
Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:08:13
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-02314413 , version 1
- DOI : 10.1016/j.surfcoat.2012.07.079
Citer
Simon Bulou, Laurent Le Brizoual, Patrice Miska, Ludovic de Poucques, Jamal Bougdira, et al.. Wide variations of SiCxNy:H thin films optical constants deposited by H2/N2/Ar/hexamethyldisilazane microwave plasma. Surface and Coatings Technology, 2012, 208, pp.46-50. ⟨10.1016/j.surfcoat.2012.07.079⟩. ⟨hal-02314413⟩
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