Microcontroller Sensitivity to Fault-Injection Induced by Near-Field Electromagnetic Interference - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2019

Microcontroller Sensitivity to Fault-Injection Induced by Near-Field Electromagnetic Interference

Fichier principal
Vignette du fichier
AP-EMC2019-Ludovic_2018_12_21_12h.pdf (282.78 Ko) Télécharger le fichier
Origine Fichiers produits par l'(les) auteur(s)
Loading...

Dates et versions

hal-02313980 , version 1 (11-10-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02313980 , version 1

Citer

Ludovic Claudepierre, Philippe Besnier. Microcontroller Sensitivity to Fault-Injection Induced by Near-Field Electromagnetic Interference. APEMC 2019 - Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Jun 2019, Sapporo, Japan. pp.1-4. ⟨hal-02313980⟩
132 Consultations
338 Téléchargements

Partager

Gmail Mastodon Facebook X LinkedIn More