Comments on “Nanoscale Investigation of Carrier Lifetime on the Cross Section of Epitaxial Silicon Solar Cells Using Kelvin Probe Force Microscopy” - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue IEEE Journal of Photovoltaics Année : 2018

Comments on “Nanoscale Investigation of Carrier Lifetime on the Cross Section of Epitaxial Silicon Solar Cells Using Kelvin Probe Force Microscopy”

Domaines

Matière Condensée [cond-mat]

Benjamin GREVIN  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-02277071

Soumis le : mardi 3 septembre 2019-13:21:43

Dernière modification le : mercredi 18 décembre 2024-09:47:38

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hal-02277071 , version 1 (03-09-2019)

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Citer

Pablo Garrillo, Paul Narchi, Pere Roca I Cabarrocas, Benjamin Grevin, Lukasz Borowik. Comments on “Nanoscale Investigation of Carrier Lifetime on the Cross Section of Epitaxial Silicon Solar Cells Using Kelvin Probe Force Microscopy”. IEEE Journal of Photovoltaics, 2018, 8 (2), pp.661-663. ⟨10.1109/JPHOTOV.2018.2793760⟩. ⟨hal-02277071⟩

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