Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2010
Olivier Latry : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02267399
Soumis le : lundi 19 août 2019-11:32:06
Dernière modification le : mercredi 24 avril 2024-13:36:03
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-02267399 , version 1
- DOI : 10.1016/j.microrel.2010.07.086
Citer
O. Latry, Pascal Dherbécourt, K. Mourgues, H. Maanane, P. Sipma, et al.. A 5000h RF life test on 330 W RF-LDMOS transistors for radars applications. Microelectronics Reliability, 2010, 50 (9-11), pp.1574-1576. ⟨10.1016/j.microrel.2010.07.086⟩. ⟨hal-02267399⟩
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