Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2010

A 5000h RF life test on 330 W RF-LDMOS transistors for radars applications

O. Latry
H. Maanane
  • Fonction : Auteur
P. Sipma
  • Fonction : Auteur
F. Cornu
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 1189975
  • IdRef : 15897722X
P. Eudeline
  • Fonction : Auteur

Dates et versions

hal-02267399 , version 1 (19-08-2019)

Identifiants

Citer

O. Latry, Pascal Dherbécourt, K. Mourgues, H. Maanane, P. Sipma, et al.. A 5000h RF life test on 330 W RF-LDMOS transistors for radars applications. Microelectronics Reliability, 2010, 50 (9-11), pp.1574-1576. ⟨10.1016/j.microrel.2010.07.086⟩. ⟨hal-02267399⟩
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