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Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2014

Performance drifts of N-MOSFETs under pulsed RF life test

M.A. Belaïd
  • Fonction : Auteur
M. Gares
  • Fonction : Auteur
O. Latry
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02267372 , version 1 (19-08-2019)

Identifiants

Citer

M.A. Belaïd, M. Gares, K. Daoud, O. Latry. Performance drifts of N-MOSFETs under pulsed RF life test. Microelectronics Reliability, 2014, 54 (9-10), pp.1851-1855. ⟨10.1016/j.microrel.2014.07.131⟩. ⟨hal-02267372⟩
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