Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2014
Olivier Latry : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02267372
Soumis le : lundi 19 août 2019-11:23:42
Dernière modification le : mercredi 24 avril 2024-13:36:03
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-02267372 , version 1
- DOI : 10.1016/j.microrel.2014.07.131
Citer
M.A. Belaïd, M. Gares, K. Daoud, O. Latry. Performance drifts of N-MOSFETs under pulsed RF life test. Microelectronics Reliability, 2014, 54 (9-10), pp.1851-1855. ⟨10.1016/j.microrel.2014.07.131⟩. ⟨hal-02267372⟩
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