Direct Measurement of Polarization-Induced Fields in GaN/AlN by Nano-Beam Electron Diffraction - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Scientific Reports Année : 2016

Direct Measurement of Polarization-Induced Fields in GaN/AlN by Nano-Beam Electron Diffraction

Daniel A.S. Carvalho
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 970141
Tim Grieb
  • Fonction : Auteur
Thorsten Mehrtens
  • Fonction : Auteur
Andreas Rosenauer
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 877070
IFP
Teresa Ben
  • Fonction : Auteur
Andrés Redondo-Cubero
  • Fonction : Auteur
Katharina Lorenz
Bruno Daudin
Francisco Morales
  • Fonction : Auteur

Dates et versions

hal-02166120 , version 1 (26-06-2019)

Identifiants

Citer

Daniel A.S. Carvalho, Knut Müller-Caspary, Marco Schowalter, Tim Grieb, Thorsten Mehrtens, et al.. Direct Measurement of Polarization-Induced Fields in GaN/AlN by Nano-Beam Electron Diffraction. Scientific Reports, 2016, 6 (1), ⟨10.1038/srep28459⟩. ⟨hal-02166120⟩
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