Remaining Useful Life Prognosis of Supercapacitors Under Temperature and Voltage Aging Conditions - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Industrial Electronics Année : 2018
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Dates et versions

hal-02147123 , version 1 (04-06-2019)

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Citer

Asmae El Mejdoubi, Hicham Chaoui, Jalal Sabor, Hamid Gualous. Remaining Useful Life Prognosis of Supercapacitors Under Temperature and Voltage Aging Conditions. IEEE Transactions on Industrial Electronics, 2018, 65 (5), pp.4357-4367. ⟨10.1109/TIE.2017.2767550⟩. ⟨hal-02147123⟩
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