Article Dans Une Revue
IEEE Transactions on Industrial Electronics
Année : 2018
Christine ROUIL : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02147123
Soumis le : mardi 4 juin 2019-14:36:36
Dernière modification le : mercredi 9 mars 2022-14:14:03
Citer
Asmae El Mejdoubi, Hicham Chaoui, Jalal Sabor, Hamid Gualous. Remaining Useful Life Prognosis of Supercapacitors Under Temperature and Voltage Aging Conditions. IEEE Transactions on Industrial Electronics, 2018, 65 (5), pp.4357-4367. ⟨10.1109/TIE.2017.2767550⟩. ⟨hal-02147123⟩
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