Article Dans Une Revue
Microscopy and Microanalysis
Année : 2017
François Vurpillot : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02107478
Soumis le : mardi 23 avril 2019-16:35:43
Dernière modification le : mercredi 24 avril 2024-13:36:03
Citer
Stefan Parviainen, Michal Dagan, Shyam Katnagallu, Baptiste Gault, Michael Moody, et al.. Atomistic Simulations of Surface Effects Under High Electric Fields. Microscopy and Microanalysis, 2017, 23 (S1), pp.644-645. ⟨10.1017/S1431927617003889⟩. ⟨hal-02107478⟩
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