Article Dans Une Revue
Microscopy and Microanalysis
Année : 2019
François Vurpillot : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02107351
Soumis le : mardi 23 avril 2019-16:13:52
Dernière modification le : mercredi 24 avril 2024-13:36:03
Citer
Zirong Peng, Yifeng Lu, Constantinos Hatzoglou, Alisson Kwiatkowski da Silva, François Vurpillot, et al.. An Automated Computational Approach for Complete In-Plane Compositional Interface Analysis by Atom Probe Tomography. Microscopy and Microanalysis, 2019, 25, pp.389-400. ⟨10.1017/S1431927618016112⟩. ⟨hal-02107351⟩
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