High-throughput electrical measurement and microfluidic sorting of semiconductor nanowires - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Lab on a Chip Année : 2016
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Dates et versions

hal-02084770 , version 1 (29-03-2019)

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Citer

Cevat Akin, Leonard Feldman, Corentin Durand, Saban Hus, An-Ping Li, et al.. High-throughput electrical measurement and microfluidic sorting of semiconductor nanowires. Lab on a Chip, 2016, 16 (11), pp.2126-2134. ⟨10.1039/C6LC00217J⟩. ⟨hal-02084770⟩
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