Imaging of 316H SENT creep sample subjected to oxidation at high temperature
| Origine | Fichiers produits par l'(les) auteur(s) |
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| Origine | Fichiers produits par l'(les) auteur(s) |
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Soumis le : mardi 26 mars 2019-17:32:42
Dernière modification le : jeudi 18 décembre 2025-16:20:03
Archivage à long terme le : jeudi 27 juin 2019-18:17:52