Imaging of 316H SENT creep sample subjected to oxidation at high temperature
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François Gibier : Connectez-vous pour contacter le contributeur
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Soumis le : mardi 26 mars 2019-17:32:42
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:10
Archivage à long terme le : jeudi 27 juin 2019-18:17:52