Imaging of 316H SENT creep sample subjected to oxidation at high temperature - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2015

Imaging of 316H SENT creep sample subjected to oxidation at high temperature

Laurie Podesta
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 1044676
Bertrand Wattrisse
Félix Latourte
  • Fonction : Auteur
Jean-Michel Muracciole
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Dates et versions

hal-02080493 , version 1 (26-03-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02080493 , version 1

Citer

Laurie Podesta, Bertrand Wattrisse, Félix Latourte, Laurent Waltz, Jean-Michel Muracciole. Imaging of 316H SENT creep sample subjected to oxidation at high temperature. International Conference on Creep And Fracture Engineering Materials And Structure - CREEP 2015, May 2015, Toulouse, France. ⟨hal-02080493⟩
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