Challenges in electrical characterization of nano devices - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2016
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02078235 , version 1 (25-03-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02078235 , version 1

Citer

Gérard Ghibaudo. Challenges in electrical characterization of nano devices. NEREID Domain Workshop: Task "Nanoscale FETs", F. Balestra and Anda Mocuta, Sinano Summer School 2016, Oct 2016, Bertinoro, Italy. ⟨hal-02078235⟩
17 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More