Communication Dans Un Congrès
Année : 2006
Frédéric Martinez : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02066884
Soumis le : mercredi 13 mars 2019-17:25:53
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:10
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-02066884 , version 1
Citer
Frédéric Martinez, Guillaume Neau, Matteo Valenza, J.C. Vildeuil. Physical Low Frequency Noise Sources Associated to Drain and Gate Currents of Ultrathin Gate oxide on n-MOSFETs. Ultimate integration on silicon, 2006, Grenoble, France. ⟨hal-02066884⟩
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