Communication Dans Un Congrès
Année : 2011
Frédéric Martinez : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02066785
Soumis le : mercredi 13 mars 2019-16:29:40
Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-21:38:55
Citer
Mayline Bawedin, Sorin Cristoloveanu, Sungjae Chang, Matteo Valenza, Frédéric Martinez, et al.. Evaluation of Interface Trap Density in Advanced SOI MOSFETs. 219th ECS Meeting, 2011, Montreal, Canada. pp.103-108, ⟨10.1149/1.3570783⟩. ⟨hal-02066785⟩
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