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Communication Dans Un Congrès Année : 2011

Evaluation of Interface Trap Density in Advanced SOI MOSFETs

Domaines

Electronique
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02066785 , version 1 (13-03-2019)

Identifiants

Citer

Mayline Bawedin, Sorin Cristoloveanu, Sungjae Chang, Matteo Valenza, Frédéric Martinez, et al.. Evaluation of Interface Trap Density in Advanced SOI MOSFETs. 219th ECS Meeting, 2011, Montreal, Canada. pp.103-108, ⟨10.1149/1.3570783⟩. ⟨hal-02066785⟩
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