Impact of Process Options on Low Frequency Noise in Germanium on- Insulator (GeOI) high-K & Metal Gate pMOSFETs
J. Gyani
(1, 2)
,
Frédéric Martinez
(1, 2)
,
S. Soliverès
(1, 2)
,
M. Valenza
(1, 2)
,
C. Le Royer
(3)
,
E. Augendre
(3)
,
L. Clavelier
(3)
Frédéric Martinez
- Fonction : Auteur
- PersonId : 15532
- IdHAL : frederic-martinez
- ORCID : 0000-0002-3917-7087
- IdRef : 074261118