Communication Dans Un Congrès
Année : 2015
Frédérique Ducroquet : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02051771
Soumis le : jeudi 28 février 2019-09:13:29
Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-21:24:01
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-02051771 , version 1
Citer
I. Messaris, T.A. Karatsori, Nikolaos Fasarakis, S. Nikolaidis, Gérard Ghibaudo, et al.. Hot carrier degradation modeling of short-channel n-FinFETs suitable for circuit applications. 4th International Conference on Modern Circuits and Systems Technologies (MOCAST), organized by the FP7 Marie Curie IAPP Project FTK, the Greek National projects NANOTRIM and NANOMOS and the Micro & Nano Scientific Society, May 2015, Thessaloniki, Greece. ⟨hal-02051771⟩
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