Detailed analysis of secondary ions' effect for the calculation of neutron-induced SER in SRAMs - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Nuclear Science Année : 2001

Detailed analysis of secondary ions' effect for the calculation of neutron-induced SER in SRAMs

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Karine Coulié  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-02025081

Soumis le : mardi 19 février 2019-15:11:09

Dernière modification le : lundi 10 juin 2024-16:58:03

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hal-02025081 , version 1 (19-02-2019)

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Citer

G. Hubert, J.-M. Palau, K. Castellani-Coulié, M.-C. Calvet, S. Fourtine. Detailed analysis of secondary ions' effect for the calculation of neutron-induced SER in SRAMs. IEEE Transactions on Nuclear Science, 2001, 48 (6), pp.1953-1959. ⟨10.1109/23.983156⟩. ⟨hal-02025081⟩

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