Caractérisation par ellipsometrie in situ de la croissance de ZnO. - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2016

Caractérisation par ellipsometrie in situ de la croissance de ZnO.

Domaines

Matériaux
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02016946 , version 1 (13-02-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02016946 , version 1

Citer

Jean-Luc Deschanvres, Evgeni Skopin, Viet Huong Nguyen, Hubert Renevier, David Muñoz-Rojas, et al.. Caractérisation par ellipsometrie in situ de la croissance de ZnO.. RAFALD Workshop, Nov 2016, Chatou, France. ⟨hal-02016946⟩
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