Characterization of metal contacts on semiconducting Nanowires using electrical biasing in a transmission electron microscope - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2015

Characterization of metal contacts on semiconducting Nanowires using electrical biasing in a transmission electron microscope

M. den Hertog
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02001723 , version 1 (31-01-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02001723 , version 1

Citer

M. den Hertog. Characterization of metal contacts on semiconducting Nanowires using electrical biasing in a transmission electron microscope. 14e Colloque de la Société Française des Microscopies, Jul 2015, Nice, France. ⟨hal-02001723⟩

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