XTOP: high-resolution X-ray diffraction and imaging - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
N°Spécial De Revue/Special Issue Journal of Applied Crystallography Année : 2015
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01986716 , version 1 (19-01-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01986716 , version 1

Citer

Vincent Favre-Nicolin, Jose Baruchel, Hubert Renevier, J. Eymery, András Borbély. XTOP: high-resolution X-ray diffraction and imaging. Journal of Applied Crystallography, 48 (3), pp.620-620, 2015. ⟨hal-01986716⟩
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