N°Spécial De Revue/Special Issue
Journal of Applied Crystallography
Année : 2015
Joël Eymery : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01986716
Soumis le : samedi 19 janvier 2019-09:04:11
Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:08:12
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01986716 , version 1
Citer
Vincent Favre-Nicolin, Jose Baruchel, Hubert Renevier, J. Eymery, András Borbély. XTOP: high-resolution X-ray diffraction and imaging. Journal of Applied Crystallography, 48 (3), pp.620-620, 2015. ⟨hal-01986716⟩
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