Article Dans Une Revue
Materials Horizons
Année : 2018
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https://hal.science/hal-01979154
Soumis le : samedi 12 janvier 2019-17:38:34
Dernière modification le : vendredi 19 avril 2024-10:50:03
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01979154 , version 1
Citer
Viet Huong Nguyen, Ulrich Gottlieb, Anthony Valla, Delfina Muñoz, Daniel Bellet, et al.. Electron tunneling through grain boundaries in transparent conductive oxides and implications for electrical conductivity: the case of ZnO:Al thin films. Materials Horizons, 2018, 5 (4), pp.715-726. ⟨hal-01979154⟩
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