XAFS atomistic insight of the oxygen gettering inTi/HfO2 based OxRRAM - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Physical Review Materials Année : 2018

XAFS atomistic insight of the oxygen gettering inTi/HfO2 based OxRRAM

Domaines

Matériaux
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01979131 , version 1 (12-01-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01979131 , version 1

Citer

R. Viennet, H. Roussel, L. Rapenne, J. L. Deschanvres, Hubert Renevier, et al.. XAFS atomistic insight of the oxygen gettering inTi/HfO2 based OxRRAM. Physical Review Materials, 2018, 2 (5), pp.055002. ⟨hal-01979131⟩
48 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More