Performance vs. Reliability Adaptive Body Bias Scheme in 28nm & 14nm UTBB FDSOI nodes - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2016

Performance vs. Reliability Adaptive Body Bias Scheme in 28nm & 14nm UTBB FDSOI nodes

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics] Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Alain BRAVAIX  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01977447

Soumis le : jeudi 10 janvier 2019-17:08:19

Dernière modification le : lundi 10 juin 2024-16:58:03

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01977447 , version 1 (10-01-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01977447 , version 1

Citer

Cheikh M. Ndiaye, Vincent Huard, Xavier Federspiel, Alain Bravaix. Performance vs. Reliability Adaptive Body Bias Scheme in 28nm & 14nm UTBB FDSOI nodes. Microelectronics Reliability, 2016, 64, pp.158-162. ⟨hal-01977447⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

UNIV-TLN CNRS UNIV-AMU IM2NP
45 Consultations
0 Téléchargements

Partager

More