Performance vs. Reliability Adaptive Body Bias Scheme in 28nm & 14nm UTBB FDSOI nodes - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2016
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Dates et versions

hal-01977447 , version 1 (10-01-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01977447 , version 1

Citer

Cheikh M. Ndiaye, Vincent Huard, Xavier Federspiel, Alain Bravaix. Performance vs. Reliability Adaptive Body Bias Scheme in 28nm & 14nm UTBB FDSOI nodes. Microelectronics Reliability, 2016, 64, pp.158-162. ⟨hal-01977447⟩
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