Impact of Surface Roughness on Thermoelectric Properties of Silicon Nanotubes - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2014
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Dates et versions

hal-01966677 , version 1 (29-12-2018)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01966677 , version 1

Citer

Tomofumi Zushi, Alessandro Cresti, Marco G. Pala, Keisaku Yamada, Takanobu Watanabe. Impact of Surface Roughness on Thermoelectric Properties of Silicon Nanotubes. 61st JSAP (Japan Society of Applied Physics) Spring Meeting, Mar 2014, Tokyo, Japan. ⟨hal-01966677⟩
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