Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2018
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https://hal.science/hal-01946442
Soumis le : jeudi 6 décembre 2018-09:33:50
Dernière modification le : lundi 17 mars 2025-19:21:09
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01946442 , version 1
- DOI : 10.1016/j.microrel.2018.07.151
Citer
J.D. Aguirre Morales, F. Marc, A. Bensoussan, A. Durier. Simulation and modelling of long term reliability of digital circuits implemented in FPGA. Microelectronics Reliability, 2018, 88-90, pp.1130-1134. ⟨10.1016/j.microrel.2018.07.151⟩. ⟨hal-01946442⟩
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