Imaging the electric properties of InAs∕InP(001) quantum dots capped with a thin InP layer by conductive atomic force microscopy: Evidence of memory effect - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Applied Physics Letters Année : 2006

Imaging the electric properties of InAs∕InP(001) quantum dots capped with a thin InP layer by conductive atomic force microscopy: Evidence of memory effect

K. Smaali
  • Fonction : Auteur
M. Troyon
  • Fonction : Auteur
A. El Hdiy
  • Fonction : Auteur
M. Molinari
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01939907 , version 1 (29-11-2018)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01939907 , version 1

Citer

K. Smaali, M. Troyon, A. El Hdiy, M. Molinari, Guillaume Saint-Girons, et al.. Imaging the electric properties of InAs∕InP(001) quantum dots capped with a thin InP layer by conductive atomic force microscopy: Evidence of memory effect. Applied Physics Letters, 2006, 89 (11), pp.112115. ⟨hal-01939907⟩
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