Conference Papers Year : 2018

Méthode de caractérisation large bande de fréquence de matériaux isolants par contact direct « sonde de mesure / échantillon »

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hal-01939115 , version 1 (29-11-2018)
hal-01939115 , version 2 (18-02-2025)

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  • HAL Id : hal-01939115 , version 2

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Thierry Lacrevaz, David Auchère, Grégory Houzet, Philippe Artillan, Bernard Flechet, et al.. Méthode de caractérisation large bande de fréquence de matériaux isolants par contact direct « sonde de mesure / échantillon ». Journées de Caractérisation Microondes et Matériaux (JCMM), Mar 2018, Paris, France. ⟨hal-01939115v2⟩
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