Méthode de caractérisation large bande de fréquence de matériaux isolants par contact direct « sonde de mesure / échantillon »
| Origine | Fichiers produits par l'(les) auteur(s) |
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| Licence |
| Origine | Fichiers produits par l'(les) auteur(s) |
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https://hal.science/hal-01939115
Soumis le : mardi 18 février 2025-07:37:26
Dernière modification le : samedi 27 septembre 2025-18:56:00