Glancing incidence X-ray techniques for film analysis
Gianguido Baldinozzi
(1)
,
Philippe Lecoeur
(2)
,
Abhishek Bose
(1)
,
Chenyi Li
(1)
,
Thomas Maroutian
(2)
,
Vassilis Pontikis
(3)
,
Laurence Luneville
(4)
,
David Simeone
(5)
1
SPMS -
Laboratoire Structures, Propriétés et Modélisation des solides
2 IEF - Institut d'électronique fondamentale
3 DRF (CEA) - Direction de Recherche Fondamentale (CEA)
4 SERMA - Service d’Études des Réacteurs et de Mathématiques Appliquées
5 SRMA - Service des Recherches Métallurgiques Appliquées
2 IEF - Institut d'électronique fondamentale
3 DRF (CEA) - Direction de Recherche Fondamentale (CEA)
4 SERMA - Service d’Études des Réacteurs et de Mathématiques Appliquées
5 SRMA - Service des Recherches Métallurgiques Appliquées
Gianguido Baldinozzi
- Fonction : Auteur
- PersonId : 1151
- IdHAL : gianguido-baldinozzi
- ORCID : 0000-0002-6909-0716
- IdRef : 190046589
Chenyi Li
- Fonction : Auteur
- PersonId : 1003337
Thomas Maroutian
- Fonction : Auteur
- PersonId : 742396
- IdHAL : tmaroutian
- ORCID : 0000-0001-5535-391X
- IdRef : 069405921
Laurence Luneville
- Fonction : Auteur
- PersonId : 884553
David Simeone
- Fonction : Auteur
- PersonId : 776502
- IdHAL : simeoned
- ORCID : 0000-0002-3689-6414