Single-Event Effects in the Peripheral Circuitry of a Commercial Ferroelectric Random- Access Memory - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2017

Single-Event Effects in the Peripheral Circuitry of a Commercial Ferroelectric Random- Access Memory

Dale Brewe
  • Fonction : Auteur
Helmut Puchner
Ari Virtanen
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 850401
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01929267 , version 1 (21-11-2018)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01929267 , version 1

Citer

Alexandre Louis Bosser, Viyas Gupta, Arto Javanainen, Georgios Tsiligiannis, Stephen D. Lalumondiere, et al.. Single-Event Effects in the Peripheral Circuitry of a Commercial Ferroelectric Random- Access Memory. RADECS: Radiation and Its Effects on Components and Systems, Oct 2017, Genève, Switzerland. ⟨hal-01929267⟩
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