Single-Event Effects in the Peripheral Circuitry of a Commercial Ferroelectric Random- Access Memory
Alexandre Louis Bosser
(1)
,
Viyas Gupta
(2, 1)
,
Arto Javanainen
(3)
,
Georgios Tsiligiannis
(1)
,
Stephen D. Lalumondiere
(4)
,
Dale Brewe
,
Véronique Ferlet-Cavrois
(5)
,
Helmut Puchner
(6)
,
Heikki Kettunen
(3)
,
Thierry Gil
(7)
,
Frédéric Wrobel
(2, 8)
,
Frédéric Saigné
(2, 8)
,
Ari Virtanen
(3)
,
Luigi Dilillo
(1)
1
TEST -
Test and dEpendability of microelectronic integrated SysTems
2 IES - Institut d’Electronique et des Systèmes
3 JYU - University of Jyväskylä
4 The Aerospace Corporation
5 ESTEC - European Space Research and Technology Centre
6 Cypress Semiconductor [San Jose]
7 LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
8 RADIAC - Radiations et composants
2 IES - Institut d’Electronique et des Systèmes
3 JYU - University of Jyväskylä
4 The Aerospace Corporation
5 ESTEC - European Space Research and Technology Centre
6 Cypress Semiconductor [San Jose]
7 LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
8 RADIAC - Radiations et composants
Alexandre Louis Bosser
- Fonction : Auteur
- PersonId : 1185875
- ORCID : 0000-0002-0764-9051
Viyas Gupta
- Fonction : Auteur
- PersonId : 1231992
Georgios Tsiligiannis
- Fonction : Auteur
- PersonId : 938500
- ORCID : 0000-0002-8976-559X
Dale Brewe
- Fonction : Auteur
Helmut Puchner
- Fonction : Auteur
- PersonId : 775790
- ORCID : 0000-0002-1856-1071
Thierry Gil
- Fonction : Auteur
- PersonId : 836986
- ORCID : 0000-0003-4811-6777
Frédéric Wrobel
- Fonction : Auteur
- PersonId : 11044
- IdHAL : frederic-wrobel
- ORCID : 0000-0002-2437-1223
- IdRef : 069697027
Frédéric Saigné
- Fonction : Auteur
- PersonId : 19534
- IdHAL : frederic-saigne
- IdRef : 110480821
Luigi Dilillo
- Fonction : Auteur
- PersonId : 172470
- IdHAL : luigi-dilillo
- ORCID : 0000-0002-1295-2688
- IdRef : 18891885X