Modeling of the emission/noise temperature in MOSFET/HEMT structures - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2013
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01927638 , version 1 (20-11-2018)

Identifiants

Citer

P. Shiktorov, E. Starikov, V. Gruzinskis, J. Torres, P. Nouvel, et al.. Modeling of the emission/noise temperature in MOSFET/HEMT structures. 22nd ICNF International Conference on Noise and Fluctuations, 2013, Montpellier, France. ⟨10.1109/ICNF.2013.6578887⟩. ⟨hal-01927638⟩
31 Consultations
0 Téléchargements

Altmetric

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More